显示试件横截面表示超声波探伤结果的方法称为（）。 A、A型显示。 B、B型显示。 C、C型显示。 D、X—Y记录仪显示。
以平面视图显示或描记缺陷的显示方式，称为（）。 A、C型显示。 B、A型显示。 C、X轴图表记录。 D、带状图表记录。
信号幅度与超声波传播时间以直角坐标形式表示的显示方式，称为（）。 A、A型显示。 B、B型显示。 C、C型显示。 D、X—Y记录仪显示。
材料晶粒尺寸增大，对超声波探伤的主要影响是（）。 A、声阻。 B、衰减。 C、声阻抗。 D、折射角。
通常所说的衰减是表示（）。 A、检测显示的特征。 B、被检测材料的系数。 C、探头特性。 D、探伤方式。
在检验粗晶材料时，最易在晶粒界面上产生散射的超声波频率是（）。
